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機器分析化学特論Ⅱ
| 科目名 | 機器分析化学特論Ⅱ | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| 教員名 | 菅原 正雄 | ||||
| 単位数 | 2 | 課程 | 前期課程 | 開講区分 | 文理学部 |
| 学期 | 後期 | 履修区分 | 選択 | ||
| 授業テーマ | 機器を用いる先端的分析法の原理、その利用に関する基本知識を習得して、自らの研究に生かすことを目指す。 |
|---|---|
| 授業のねらい・到達目標 | 測定結果の正しさを理解するには、用いている方法の原理、特徴、欠点の知識が必須となる。物質を検出する先端的方法を中心に講義し、方法の原理、特徴、限界などを正しく理解する。 |
| 授業の方法 | 講義形式 |
| 授業計画 | |
|---|---|
| 1 | ガイダンス |
| 2 | 電気化学分析法の基礎 |
| 3 | 電気化学分析法の基礎 |
| 4 | 電気化学分析法の基礎 |
| 5 | 化学センサー |
| 6 | 化学センサー |
| 7 | バイオセンサー |
| 8 | バイオセンサー |
| 9 | 蛍光分析法の基礎 |
| 10 | 蛍光分析法の応用 |
| 11 | 蛍光イメージング |
| 12 | 新しい検出法（SPR法) |
| 13 | 新しい検出法(STMおよびAFM) |
| 14 | まとめ（１） |
| 15 | まとめ（２） |
| その他 | |
|---|---|
| 成績評価の方法及び基準 | 平常点(50%)、授業参画度(50%) |
| オフィスアワー | 随時 |